Rezultati
| Title: | NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors | Authors: | Stojadinović, Ninoslav  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel |
Issue Date: | 2018 | Publication: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Search Idenfier |
Publisher: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Type: | Article | Collation: | vol. 88-90 str. 135-141 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2018.07.138 | WoS-ID: | 000448227000026 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85054785454 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/153928 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12129 |
Project: | Serbian Academy of Sciences and Arts [F-148] Карактеризација, анализа и моделовање физичких појава у танким слојевима за примену у MOS нанокомпонентама |
Metadata source: | Migracija Migrirano iz RIS podataka |
M-category: | 22M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.