Results
еНаука >
Резултати >
NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions
| Назив: | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions | Аутори: | Manić, Ivica   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2011 | Публикација: | MICROELECTRONICS RELIABILITY | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 51 br. 9-11 str. 1540-1543 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2011.06.004 | WoS-ID: | 000295568400022 | Scopus-ID: | 2-s2.0-80052955025 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/153931 | Пројекат: | Ministry of Science of the Republic of Serbia[0171026, TR32026] | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.