Резултати

еНаука >  Резултати >  Circuit-Level Simulation of the Single Event Transients in an On-Chip Single Event Latchup Protection Switch
Назив: Circuit-Level Simulation of the Single Event Transients in an On-Chip Single Event Latchup Protection Switch
Аутори: Andjelković, Marko S.; Petrović, Vladimir  ; Stamenković, Zoran; Ristić, Goran  ; Jovanović, Goran 
Година: 2015
Публикација: Journal of Electronic Testing
ISSN: 0923-8174 Journal of Electronic Testing: Theory and Applications Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 31 br. 3 str. 275-289
DOI: 10.1007/s10836-015-5529-1
WoS-ID: 000358148800004
Scopus-ID: 2-s2.0-84937638727
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/161520
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
23M23 - Међународни часопис категорије M23

8
SCOPUSTM
3
OpenCitations
7
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.