Results

eNauka >  Rezultati >  Circuit-Level Simulation of the Single Event Transients in an On-Chip Single Event Latchup Protection Switch
Naziv: Circuit-Level Simulation of the Single Event Transients in an On-Chip Single Event Latchup Protection Switch
Autori: Andjelković, Marko S.; Petrović, Vladimir  ; Stamenković, Zoran; Ristić, Goran  ; Jovanović, Goran 
Godina: 2015
Publikacija: Journal of Electronic Testing
ISSN: 0923-8174 Journal of Electronic Testing: Theory and Applications Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 31 br. 3 str. 275-289
DOI: 10.1007/s10836-015-5529-1
WoS-ID: 000358148800004
Scopus-ID: 2-s2.0-84937638727
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/161520
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23

8
SCOPUSTM
3
OpenCitations
7
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.