Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS
Naziv: Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS
Autori: Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2012
Publikacija: Facta Universitatis
ISSN: 1820-6417 Facta Universitatis: Series Automatic Control and Robotics Pretraži identifikator
Izdavač: Niš : University of Niš
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 11 br. 1 str. 15-23-23
VBS COBISS: 212990732
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/174577
https://plus.cobiss.net/cobiss/sr/sr/bib/212990732#izum.si
URL: http://facta.junis.ni.ac.rs/acar/acar201201/acar20120102.html
Izvor metapodataka: Migracija
M-kategorija: 
53M53 - Nacionalni časopis kategorije M53

Pronađi DOI


Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.