Резултати

еНаука >  Резултати >  Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS
Назив: Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS
Аутори: Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Година: 2012
Публикација: Facta Universitatis
ISSN: 1820-6417 Facta Universitatis: Series Automatic Control and Robotics Претражи идентификатор
Издавач: Niš : University of Niš
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 11 br. 1 str. 15-23-23
VBS COBISS: 212990732
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/174577
https://plus.cobiss.net/cobiss/sr/sr/bib/212990732#izum.si
URL: http://facta.junis.ni.ac.rs/acar/acar201201/acar20120102.html
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
53M53 - Национални часопис категорије M53

Пронађи DOI


Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.