A 28nm FDSOI 8192-point digital ASIC spectrometer from a Chisel generator

Stevo Bailey; John Wright; Nandish Mehta; Rachel Hochman; Robert Jarnot; Milovanović, Vladimir M.; Dan Werthimer; Borivoje Nikolić

Rezultati

eNauka > Rezultati > A 28nm FDSOI 8192-point digital ASIC spectrometer from a Chisel generator

Naziv:	A 28nm FDSOI 8192-point digital ASIC spectrometer from a Chisel generator
Autori:	Stevo Bailey; John Wright; Nandish Mehta; Rachel Hochman; Robert Jarnot; Milovanović, Vladimir M. ; Dan Werthimer; Borivoje Nikolić
Godina:	2018
Publikacija:	Proceedings of 2018 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
ISSN:	2152-3630 Pretraži identifikator
Izdavač:	IEEE, San Dijego
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-1-5386-2483-8 Pretraži identifikator
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/184249
URL:	https://ieeexplore.ieee.org/document/8357062
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.