Reliability of Memories Built from Unreliable Components under Data-Dependent Gate Failures

Brkić, Srđan; Ivaniš, Predrag; Vasic, Bane

Rezultati

eNauka > Rezultati > Reliability of Memories Built from Unreliable Components under Data-Dependent Gate Failures

Naziv:	Reliability of Memories Built from Unreliable Components under Data-Dependent Gate Failures
Autori:	Brkić, Srđan ; Ivaniš, Predrag ; Vasic, Bane
Godina:	2015
Publikacija:	IEEE COMMUNICATIONS LETTERS
ISSN:	1089-7798 IEEE Communications Letters Pretraži identifikator
Tip rezultata:	Naučni članak
Kolacija:	vol. 19 br. 12 str. 2098-2101
DOI:	10.1109/lcomm.2015.2496266
WoS-ID:	000366613300012
Scopus-ID:	2-s2.0-84959233211
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/190894 http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/705721
Izvor metapodataka:	Migracija
M-kategorija:	22M22 - Rad u istaknutom međ. časopisu

7
SCOPUS^TM

6
OpenCitations

4
WEB OF SCIENCE^TM

Alt metrika

Dimensions

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.