Rezultati
| Naziv: | MEMS Reliability | Autori: | Stanimirović, Ivanka |
Godina: | 2012 | Publikacija: | MIEL : 28th International Conference on Microelectronics : Proceedings book | ISSN: | 2159-1660![]() Pretraži identifikator |
Izdavač: | IEEE | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-1-4673-0237-1 Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 173-175 | DOI: | 10.1109/miel.2012.6222826 | WoS-ID: | 000309119600035 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84864273051 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/190927 | Izvor metapodataka: | Migracija | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.
