Резултати

eNauka >  Rezultati >  Influence of High Voltage Pulse Trimming on Thick-Film Resistor Quality Indicators
Naziv: Influence of High Voltage Pulse Trimming on Thick-Film Resistor Quality Indicators
Autori: Stanimirović, Ivanka  ; Stanimirović, Zdravko  
Godina: 2017
Publikacija: MIEL : 30th International Conference on Microelectronics : Proceedings Book
ISSN: 2159-1660 Pretraži identifikator
Izdavač: IEEE
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-1-5386-2561-3 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 179-181
DOI: 10.1109/miel.2017.8190097
WoS-ID: 000427499000038
Scopus-ID: 2-s2.0-85043568587
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/190937
Projekat: Ministry for Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [III44003, III45007]
Izvor metapodataka: Migracija
Napomena o dostupnosti: Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

3
SCOPUSTM
2
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.