SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser

Pongrac, I; Gaković, Biljana M.; Trtica, Milan; Nenadović, T; Petrovic, S

Резултати

еНаука > Резултати > SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser

Назив:	SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser
Аутори:	Pongrac, I; Gaković, Biljana M. ; Trtica, Milan ; Nenadović, T; Petrovic, S
Година:	2001
Издавач:	PROCEEDINGS OF THE 5TH MULTINATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 323-324
WoS-ID:	000183071700129
URI:	https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6363 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/200789
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

1
WEB OF SCIENCE^TM

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.