SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser

Pongrac, I; Gaković, Biljana M.; Trtica, Milan; Nenadović, T; Petrovic, S

Rezultati

eNauka > Rezultati > SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser

Naziv:	SEM and EDX analysis of silicon surface irradiated by TEA CO2 laser
Autori:	Pongrac, I; Gaković, Biljana M. ; Trtica, Milan ; Nenadović, T; Petrovic, S
Godina:	2001
Izdavač:	PROCEEDINGS OF THE 5TH MULTINATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. 323-324
WoS-ID:	000183071700129
URI:	https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6363 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/200789
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
WEB OF SCIENCE^TM

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.