Rezultati
еНаука >
Резултати >
N-type silicon electron mobility and its relationship to the kink effect for nano-scaled SOI NMOS devices
| Назив: | N-type silicon electron mobility and its relationship to the kink effect for nano-scaled SOI NMOS devices | Аутори: | Sarajlić, Milija |
Година: | 2007 | Публикација: | Materials Science Forum | ISSN: | 0255-5476 Materials Science Forum Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | vol. 555 str. 153-158 | DOI: | 10.4028/www.scientific.net/MSF.555.153 | WoS-ID: | 000249653700024 | Scopus-ID: | 2-s2.0-38349078602 | URI: | https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/347 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/202458 |
М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.