Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene

Vasić, Borislav; Gajić, Radoš; Matković, Aleksandar; Ralević, Uroš; Roman Gorbachev

Резултати

еНаука > Резултати > Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene

Назив:	Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene
Аутори:	Vasić, Borislav ; Gajić, Radoš ; Matković, Aleksandar ; Ralević, Uroš ; Roman Gorbachev
Година:	2014
Публикација:	13th Young Researchers’ Conference – Materials Science and Engineering
Издавач:	Material Research Society (MRS) Serbia and Institute of Technical Sciences SASA, Srbija
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-86-80321-30-1 Претражи идентификатор
Колација:	str. 46-46
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/208497
URL:	http://www.mrs-serbia.org.rs/13conference.html
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.