Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene

Vasić, Borislav; Gajić, Radoš; Matković, Aleksandar; Ralević, Uroš; Roman Gorbachev

Rezultati

eNauka > Rezultati > Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene

Naziv:	Atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy measurements of single and few layer graphene
Autori:	Vasić, Borislav ; Gajić, Radoš ; Matković, Aleksandar ; Ralević, Uroš ; Roman Gorbachev
Godina:	2014
Publikacija:	13th Young Researchers’ Conference – Materials Science and Engineering
Izdavač:	Material Research Society (MRS) Serbia and Institute of Technical Sciences SASA, Srbija
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-80321-30-1 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 46-46
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/208497
URL:	http://www.mrs-serbia.org.rs/13conference.html
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.