XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS

J. Trigueiro; Radisavljević, Ivana; Bundaleski, Nenad K.; Medić Ilić, Mirjana M.; Romčević, Nebojša; O.M.N.D. Teodoro; Ivanović, Nenad

Резултати

еНаука > Резултати > XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS

Назив:	XAFS AND XPS ANALYSIS OF QUATERNARY II–VI BASED SEMICONDUCTORS
Аутори:	J. Trigueiro; Radisavljević, Ivana ; Bundaleski, Nenad K. ; Medić Ilić, Mirjana M. ; Romčević, Nebojša ; O.M.N.D. Teodoro; Ivanović, Nenad
Година:	2014
Публикација:	XIII European Vacuum Conference
Издавач:	European Vacuum Conference, Aveiro (Portugal)
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 184-184
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/274606
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.