Rezultati

eNauka >  Results >  Ispitivanje uticaja debljine tunel oksida kod Flash EEPROM ćelije pomoću TCAD alata
Title: Ispitivanje uticaja debljine tunel oksida kod Flash EEPROM ćelije pomoću TCAD alata
Authors: S. Ilic; Marjanović, Miloš B.  
Issue Date: 2017
Publication: IEEESTEC – 10th Student Projects Conference
Publisher: Niš
Type: Conference Paper
ISBN: 978-86-6125-193-1 Search Idenfier
Collation: str. 243-246
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/301571
Metadata source: Migrirano iz RIS podataka
M-category: 
Mp. category will be shown later

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.