Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Ispitivanje uticaja debljine tunel oksida kod Flash EEPROM ćelije pomoću TCAD alata
Naziv: Ispitivanje uticaja debljine tunel oksida kod Flash EEPROM ćelije pomoću TCAD alata
Autori: S. Ilic; Marjanović, Miloš B.  
Godina: 2017
Publikacija: IEEESTEC – 10th Student Projects Conference
Izdavač: Niš
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-86-6125-193-1 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 243-246
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/301571
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.