Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Contribution of fixed oxide traps to sensitivity of pMOS dosimeters during gamma ray irradiation and annealing at room and elevated temperature
| Naziv: | Contribution of fixed oxide traps to sensitivity of pMOS dosimeters during gamma ray irradiation and annealing at room and elevated temperature | Autori: | Pejović, Milić |
Godina: | 2012 | Publikacija: | Sensors and Actuators A: Physical | ISSN: | 0924-4247 Sensors and Actuators A: Physical Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 174 str. 85-90 | DOI: | 10.1016/j.sna.2011.12.011 | WoS-ID: | 000300523300012 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84855889606 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/320322 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.