Contribution of fixed oxide traps to sensitivity of pMOS dosimeters during gamma ray irradiation and annealing at room and elevated temperature

Pejović, Milić; Pejović, Momčilo; Jaksic, Aleksandar B.

Rezultati

eNauka > Rezultati > Contribution of fixed oxide traps to sensitivity of pMOS dosimeters during gamma ray irradiation and annealing at room and elevated temperature

Naziv:	Contribution of fixed oxide traps to sensitivity of pMOS dosimeters during gamma ray irradiation and annealing at room and elevated temperature
Autori:	Pejović, Milić ; Pejović, Momčilo ; Jaksic, Aleksandar B.
Godina:	2012
Publikacija:	Sensors and Actuators A: Physical
ISSN:	0924-4247 Sensors and Actuators A: Physical Pretraži identifikator
Tip rezultata:	Naučni članak
Kolacija:	vol. 174 str. 85-90
DOI:	10.1016/j.sna.2011.12.011
WoS-ID:	000300523300012
Scopus-ID:	2-s2.0-84855889606
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/320322
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	21M21 - Rad u vrhunskom međ. časopisu

41
SCOPUS^TM

35
OpenCitations

39
WEB OF SCIENCE^TM

Alt metrika

Dimensions

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.