Резултати
Назив: | Analysis of SiO2 thin film deposited by reactive sputtering | Аутори: | Radović, Ivan ![]() ![]() ![]() ![]() |
Година: | 2006 | Публикација: | Materials Science Forum | ISSN: | 0255-5476![]() ![]() |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 518 str. 149-154 | DOI: | 10.4028/www.scientific.net/MSF.518.149 | WoS-ID: | 000239351800026 | Scopus-ID: | 2-s2.0-37849014254 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/338946 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6599 |
М-категорија: | 23M23 - Рад у међ. часопису |
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.