Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Analysis of SiO2 thin film deposited by reactive sputtering
Naziv: Analysis of SiO2 thin film deposited by reactive sputtering
Autori: Radović, Ivan  ; Serruys, Y.; Limoge, Y.; Jaoul, O.; Romčević, Nebojša Ž.  ; Poissonnet, S.; Bibić, Nataša M.
Godina: 2006
Publikacija: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 518 str. 149-154
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.518.149
WoS-ID: 000239351800026
Scopus-ID: 2-s2.0-37849014254
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/338946
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6599
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.