Резултати

еНаука >  Резултати >  Radiological characterization of semiconductor materials in field effect transistor dosimeter by Monte Carlo method
Назив: Radiological characterization of semiconductor materials in field effect transistor dosimeter by Monte Carlo method
Аутори: Stanković, Srboljub J.  ; Ilic, R. D.; Petrović, Milica S.; Lončar, Boris B.; Vasić, Aleksandra  
Година: 2006
Публикација: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 518 str. 361-366
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.518.361
WoS-ID: 000239351800060
Scopus-ID: 2-s2.0-37849027770
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/361452
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6612
https://machinery.mas.bg.ac.rs/handle/123456789/643
М-категорија: 
23M23 - Рад у међ. часопису

3
SCOPUSTM
2
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.