Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Manić, Ivica   ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2016 | Публикација: | Facta universitatis - series: Electronics and Energetics | ISSN: | 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Претражи идентификатор |
Издавач: | Niš, Serbia : University of Niš | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 29 br. 1 str. 49-60 | DOI: | 10.2298/fuee1601049m | WoS-ID: | 000382945500004 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/361775 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.