Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs
Naziv: Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs
Autori: Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2016
Publikacija: Facta universitatis - series: Electronics and Energetics
ISSN: 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Pretraži identifikator
Izdavač: Niš, Serbia : University of Niš
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 29 br. 1 str. 49-60
DOI: 10.2298/fuee1601049m
WoS-ID: 000382945500004
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/361775
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24

3
OpenCitations
7
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.