Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Automation of Standard Cell Characterization in 180nm CMOS process using Open Command Environment for Analysis
| Naziv: | Automation of Standard Cell Characterization in 180nm CMOS process using Open Command Environment for Analysis | Autori: | Mirković, Dejan D.   ; Stanojlović-Mirković, Milena J. |
Godina: | 2018 | Publikacija: | Proceedings of XIV International SAUM Conference on Systems, Automation, Control and Measurements (SAUM 2018) | Izdavač: | University of Nis, Faculty of Electronic Engineering, Serbia, Nis | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-6125-205-1  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 69-72 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/363925 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.