Резултати
| Title: | On-chip I–V variability and random telegraph noise characterization in 28nm CMOS | Authors: | A. Whitcombe; S. Taylor; M. Denham; Milovanović, Vladimir M.   ; B. Nikolić |
Issue Date: | 2016 | Publication: | Proceedings of the 46th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2016 | ISSN: | 2378-6558  Search Idenfier |
Publisher: | IEEE, Lozana | Type: | Conference Paper | Collation: | str. 248-251 | DOI: | 10.1109/ESSDERC.2016.7599632 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84994431025 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/417679 | URL: | http://ieeexplore.ieee.org/document/7599632 | Metadata source: | Migrirano iz RIS podataka | M-category: | Mp. category will be shown later |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.