Rezultati
eNauka >
Rezultati >
On-chip I–V variability and random telegraph noise characterization in 28nm CMOS
| Naziv: | On-chip I–V variability and random telegraph noise characterization in 28nm CMOS | Autori: | A. Whitcombe; S. Taylor; M. Denham; Milovanović, Vladimir M.   ; B. Nikolić |
Godina: | 2016 | Publikacija: | Proceedings of the 46th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2016 | ISSN: | 2378-6558  Pretraži identifikator |
Izdavač: | IEEE, Lozana | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 248-251 | DOI: | 10.1109/ESSDERC.2016.7599632 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84994431025 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/417679 | URL: | http://ieeexplore.ieee.org/document/7599632 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.