Резултати
еНаука >
Резултати >
Characterization of as implanted silicides by frequency noise level measurements
| Назив: | Characterization of as implanted silicides by frequency noise level measurements | Аутори: | Stojanovic, M; Milosavljević, Momir   ; Jeynes, C |
Година: | 1998 | Публикација: | Materials Science Forum | ISSN: | 0255-5476 Materials Science Forum Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 282-283 str. 153-156 | DOI: | 10.4028/www.scientific.net/MSF.282-283.153 | WoS-ID: | 000075079900021 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/6247 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/470192 |
М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.