Резултати

еНаука >  Резултати >  Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology
Назив: Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology
Аутори: Cavrić, Bojan; Dolićanin, Edin  ; Petronijević, Predrag  ; Pejović, Milić  ; Stanković, Koviljka  
Година: 2013
Публикација: INTERNATIONAL JOURNAL OF PHOTOENERGY
ISSN: 1110-662X International Journal of Photoenergy Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 2013 str. 1-7
DOI: 10.1155/2013/158792
WoS-ID: 000321367600001
Scopus-ID: 2-s2.0-84880151439
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/491972
http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/704780
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

7
SCOPUSTM
4
OpenCitations
6
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.