Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology
Naziv: Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology
Autori: Cavrić, Bojan; Dolićanin, Edin  ; Petronijević, Predrag  ; Pejović, Milić  ; Stanković, Koviljka  
Godina: 2013
Publikacija: INTERNATIONAL JOURNAL OF PHOTOENERGY
ISSN: 1110-662X International Journal of Photoenergy Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 2013 str. 1-7
DOI: 10.1155/2013/158792
WoS-ID: 000321367600001
Scopus-ID: 2-s2.0-84880151439
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/491972
http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/704780
Izvor metapodataka: Migracija
M-kategorija: 
21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a

7
SCOPUSTM
4
OpenCitations
6
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.