Резултати

eNauka >  Rezultati >  A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors
Naziv: A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors
Autori: Prijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2012
Publikacija: Measurement Science and Technology
ISSN: 0957-0233 Measurement Science and Technology Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 23 br. 8 str. 085003-085003
DOI: 10.1088/0957-0233/23/8/085003
WoS-ID: 000306366600011
Scopus-ID: 2-s2.0-84863829082
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/507156
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

14
SCOPUSTM
10
OpenCitations
15
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.