Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Effect of fluorination and hydrogenation by ion implantation on reliability of poly-Si TFTs under gamma irradiation
Naziv: Effect of fluorination and hydrogenation by ion implantation on reliability of poly-Si TFTs under gamma irradiation
Autori: Jelenković, Emil V; Ristić, Goran  ; Pejović, Milić  ; Jevtić, Milan M; Jha, Shrawan K; Videnović-Mišić, Mirjana ; Pejović, Momčilo ; Tong, K Y
Godina: 2010
Publikacija: Journal of Physics D: Applied Physics
ISSN: 0022-3727 Journal of Physics. D: Applied Physics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 44 br. 1 str. 015101-015101
DOI: 10.1088/0022-3727/44/1/015101
WoS-ID: 000285147400005
Scopus-ID: 2-s2.0-78650651604
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/507197
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

11
SCOPUSTM
6
OpenCitations
7
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.