Резултати

еНаука >  Резултати >  The sensitivity of 100 nm RADFETs with zero gate bias up to dose of 230 Gy(Si)
Назив: The sensitivity of 100 nm RADFETs with zero gate bias up to dose of 230 Gy(Si)
Аутори: Ristic, Goran S.  ; Vasovic, Nikola D.; Kovačević, Milojko; Jaksic, Aleksandar B.
Година: 2011
Публикација: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
ISSN: 0168-583X Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Претражи идентификатор
1872-9584 Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 269 br. 23 str. 2703-2708
DOI: 10.1016/j.nimb.2011.08.015
WoS-ID: 000298072000002
Scopus-ID: 2-s2.0-80053172815
URI: https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/4608
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/549606
Пројекат: Joint research on various types of radiation dosimeters (EU-207122)
Zajednička istraživanja merenja i uticaja jonizujućeg i UV zračenja u oblasti medicine i zaštite životne sredine (RS-43011)
М-категорија: 
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

38
SCOPUSTM
35
OpenCitations
31
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.