Резултати

еНаука >  Резултати >  XAFS and XPS analysis of Zn0.98Fe0.02Te0.91Se0.09 semiconductor
Назив: XAFS and XPS analysis of Zn0.98Fe0.02Te0.91Se0.09 semiconductor
Аутори: Radisavljević, Ivana  ; Trigueiro, J.; Bundaleski, Nenad  ; Medić, Mirjana  ; Romčević, Nebojša Ž.  ; Teodoro, Orlando M. N. D.; Mitrić, Miodrag  ; Ivanović, Nenad  
Година: 2015
Публикација: Journal of Alloys and Compounds
ISSN: 0925-8388 Journal of Alloys and Compounds Претражи идентификатор
1873-4669 Journal of Alloys and Compounds Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 632 str. 17-22
DOI: 10.1016/j.jallcom.2015.01.169
WoS-ID: 000350388900003
Scopus-ID: 2-s2.0-84922375565
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/560723
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/425
Пројекат: Optoelektronski nanodimenzioni sistemi - put ka primeni (RS-45003)
ELISA - European Light Sources Activities - Synchrotrons and Free Electron Lasers (EU-226716)
Republic of Serbia [451-03-02328/2012-14/03], Republic of Portugal [451-03-02328/2012-14/03], Portuguese Research Grant through FCT-MEC [Pest-OE/FIS/UI0068/2011]
М-категорија: 
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a

8
SCOPUSTM
7
OpenCitations
8
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.