Резултати

еНаука >  Резултати >  Processes in radiation sensitive MOSFETs during irradiation and post irradiation annealing responsible for threshold voltage shift
Назив: Processes in radiation sensitive MOSFETs during irradiation and post irradiation annealing responsible for threshold voltage shift
Аутори: Pejović, Milić M.  
Година: 2017
ISSN: 0969-806X Radiation Physics and Chemistry Претражи идентификатор
Издавач: Elsevier
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 130 str. 221-228
DOI: 10.1016/j.radphyschem.2016.08.027
WoS-ID: 000388777200033
Scopus-ID: 2-s2.0-84985998512
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/562485
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

21
SCOPUSTM
8
OpenCitations
17
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.