Rezultati

eNauka >  Rezultati >  X-Ray Diffraction Study of Cu25[[AsSe1.4]0.2]75Amorphous Semiconductor
Naziv: X-Ray Diffraction Study of Cu25[[AsSe1.4]0.2]75Amorphous Semiconductor
Autori: Bordas A.; Vučinić-Vasić Milica; Kapor Agneš; Antić Borislav
Godina: 2001
Publikacija: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 378-381 str. 394-399
URI: https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=26341&source=eNauka&language=en
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/591674
M-kategorija: 
21M21 - Rad u vrhunskom međ. časopisu

Pronađi DOI

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.