Резултати

еНаука >  Резултати >  X-Ray Diffraction Study of Cu25[[AsSe1.4]0.2]75Amorphous Semiconductor
Назив: X-Ray Diffraction Study of Cu25[[AsSe1.4]0.2]75Amorphous Semiconductor
Аутори: Bordas A.; Vučinić-Vasić Milica; Kapor Agneš; Antić Borislav
Година: 2001
Публикација: Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476 Materials Science Forum Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 378-381 str. 394-399
URI: https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=26341&source=eNauka&language=en
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/591674
М-категорија: 
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

Пронађи DOI


Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.