Резултати
| Назив: | Total ionizing dose degradation of power bipolar integrated circuit | Аутори: | V. Vukić |
Година: | 2008 | Публикација: | JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS | ISSN: | 1454-4164 Journal of Optoelectronics and Advanced Materials Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 10 br. 1 str. 219-228 | DOI: | 10.5281/zenodo.10066276 | WoS-ID: | 000252986700034 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/719903 http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/510108 |
М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.