Rezultati
| Naziv: | Multiple high-voltage pulse stressing of conventional thick-film resistors | Autori: | Stanimirović, Ivanka   ; Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 2007 | Publikacija: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | Elsevier | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 47 br. 12 str. 2242-2248 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2006.11.017 | WoS-ID: | 000251484000047 | Scopus-ID: | 2-s2.0-35648936522 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768947 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.