Резултати
| Назив: | Thick-film resistor quality indicator based on noise index measurements | Аутори: | Jevtić, M. M.; Mrak, Ivanka   ; Stanimirović, Zdravko |
Година: | 1999 | Публикација: | Microelectronics Journal | ISSN: | 0026-2692 Microelectronics Journal Претражи идентификатор |
Издавач: | Elsevier | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 30 br. 12 str. 1255-1259 | DOI: | 10.1016/s0026-2692(99)00050-6 | WoS-ID: | 000083341800010 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0033339214 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769022 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Напомена о доступности: | Пуни текст није јавно доступан | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.