Rezultati
| Naziv: | Thick-film resistor quality indicator based on noise index measurements | Autori: | Jevtić, M. M.; Mrak, Ivanka   ; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 1999 | Publikacija: | Microelectronics Journal | ISSN: | 0026-2692 Microelectronics Journal Pretraži identifikator |
Izdavač: | Elsevier | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 30 br. 12 str. 1255-1259 | DOI: | 10.1016/s0026-2692(99)00050-6 | WoS-ID: | 000083341800010 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0033339214 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769022 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није јавно доступан | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.