| Naziv: | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress |
Autori: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran ;
|
Godina: | 2022 |
Publikacija: | Journal of Circuits Systems and Computers |
ISSN: | 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Pretraži identifikator |
Izdavač: | Singapore : World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd. |
Tip rezultata: | Naučni članak |
Kolacija: | vol. 31 br. 18 str. 2240003-1-2240003-25 |
DOI: | 10.1142/s0218126622400035 |
WoS-ID: | 000849432300001 |
Scopus-ID: | 2-s2.0-85134418477 |
URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12130
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776661 |
URL: | http://dx.doi.org/10.1142/s0218126622400035 |
Projekat: | ELICSIR - Enhancement of Sceintific Excellence and Innovation Potential in Electronic Instrumentation for Ionising Radiation Environments
Ministarstvo nauke, tehnološkog razvoja i inovacija Republike Srbije, institucionalno finansiranje - 200102 (Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet) |
Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola |
M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
