Rezultati
| Назив: | Modeling of NBTI degradation in p-channel VDMOSFETs | Аутори: | Mitrović, Nikola   ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2020 | Публикација: | Journal of Applied Engineering Science | ISSN: | 1451-4117 Journal of Applied Engineering Science Pretraži identifikator |
Издавач: | Centre for Evaluation in Education and Science ({CEON}/{CEES}) | Тип резултата: | Naučni članak | Колација: | vol. 18 br. 4 str. 515-519 | DOI: | 10.5937/jaes0-26760 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85097883100 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776666 | URL: | http://dx.doi.org/10.5937/jaes0-26760 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola | Podatke uređivali: | Митић, Иван[Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet] |
M-kategorija: | 24+M24+ - Međunarodni časopis kategorije M24+ |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.