Резултати

еНаука >  Резултати >  Self-heating of stressed VDMOS devices under specific operating conditions
Назив: Self-heating of stressed VDMOS devices under specific operating conditions
Аутори: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Mančić, Dragan  ; Danković, Danijel  
Година: 2023
Публикација: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: str. 115213-115213
DOI: 10.1016/j.microrel.2023.115213
WoS-ID: 001106960200001
Scopus-ID: 2-s2.0-85174572123
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/791456
Извор метаподатака: (Preuzeto iz CrossRef-a) Jovanović, Igor
М-категорија: 
23M23 - Рад у међ. часопису

1
SCOPUSTM
1
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.