Резултати

eNauka >  Rezultati >  Low frequency noise as a tool for diagnostic of ESD degraded GaAs mesfets
Naziv: Low frequency noise as a tool for diagnostic of ESD degraded GaAs mesfets
Autori: Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M
Godina: 2009
Publikacija: JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS
ISSN: 1454-4164 Journal of Optoelectronics and Advanced Materials Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 11 br. 2 str. 155-163
WoS-ID: 000264183500008
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/796264
Projekat: Serbian Ministry of Science and Environmental Protection
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

Пронађи DOI

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.