Резултати

еНаука >  Резултати >  Low frequency noise as a tool for diagnostic of ESD degraded GaAs mesfets
Назив: Low frequency noise as a tool for diagnostic of ESD degraded GaAs mesfets
Аутори: Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M
Година: 2009
Публикација: JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS
ISSN: 1454-4164 Journal of Optoelectronics and Advanced Materials Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 11 br. 2 str. 155-163
WoS-ID: 000264183500008
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/796264
Пројекат: Serbian Ministry of Science and Environmental Protection
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

Пронађи DOI

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.