Резултати

еНаука >  Резултати >  Repeating of positive and negative high electric field stress and corresponding thermal post-stress annealing of the n-channel power VDMOSFETs
Назив: Repeating of positive and negative high electric field stress and corresponding thermal post-stress annealing of the n-channel power VDMOSFETs
Аутори: Aleksic, Sanja M  ; Jaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M
Година: 2008
Публикација: SOLID-STATE ELECTRONICS
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 52 br. 8 str. 1197-1201
DOI: 10.1016/j.sse.2008.05.004
WoS-ID: 000259130700014
Scopus-ID: 2-s2.0-48849098295
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/796496
Пројекат: Ministry of the Science of the Republic of Serbia [141008B]
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

6
SCOPUSTM
4
OpenCitations
6
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.