Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Repeating of positive and negative high electric field stress and corresponding thermal post-stress annealing of the n-channel power VDMOSFETs
Naziv: Repeating of positive and negative high electric field stress and corresponding thermal post-stress annealing of the n-channel power VDMOSFETs
Autori: Aleksic, Sanja M  ; Jaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M
Godina: 2008
Publikacija: SOLID-STATE ELECTRONICS
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 52 br. 8 str. 1197-1201
DOI: 10.1016/j.sse.2008.05.004
WoS-ID: 000259130700014
Scopus-ID: 2-s2.0-48849098295
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/796496
Projekat: Ministry of the Science of the Republic of Serbia [141008B]
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

6
SCOPUSTM
4
OpenCitations
6
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.