Резултати
еНаука >
Резултати >
NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2006 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 46 br. 9-11 str. 1828-1833 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2006.07.077 | WoS-ID: | 000240776100076 | Scopus-ID: | 2-s2.0-33747767168 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797802 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.