Резултати
eNauka >
Rezultati >
NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs
| Naziv: | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs | Autori: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2006 | Publikacija: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 46 br. 9-11 str. 1828-1833 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2006.07.077 | WoS-ID: | 000240776100076 | Scopus-ID: | 2-s2.0-33747767168 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797802 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.